Minister Kamp van Economische Zaken bracht op donderdag 18 april in Nijmegen een werkbezoek aan NXP Semiconductors, de chipfabrikant. Het bezoek stond in het teken van de samenwerking tussen kennisinstellingen, het MKB en de industrie: speerpunt van het topsectorenbeleid van de overheid.
De minister werd uitgebreid geïnformeerd over o.a. het SMART-In-Car project, een slimme verkeersproef die gehouden is in de regio Eindhoven, één van de door het Ministerie van Economische Zaken ondersteunde projecten. Het Smart In-car consortium staat onder leiding van NXP en IBM met als partners Nokia, Tass, Beijer Automotive, KPN, Cibatax, Technolution, TNO, ANWB, Rijkswaterstaat en TU Eindhoven.
De universele In-car module van het uCAN systeem is gebaseerd op het ATOP platform van NXP. Ronald de Beijer was als partner aanwezig om tekst en uitleg te geven over specifiek het uCAN systeem dat als onderdeel van het Smart In-car project waardevolle sensor-data uit auto’s aanbiedt.
